20 Hz 至 2 MHz，為廣泛的組件測(cè)量提供精度、速度和多功能性的最佳組合。

20 Hz 至 300 kHz / 500 kHz / 1 MHz，通過(guò)可用的頻率選擇獲得準(zhǔn)確性、速度和多功能性的組合。

MICROTEST 6621系列LCR測(cè)試儀提供10Hz～30MHz寬頻率范圍測(cè)量元件/材料阻抗特性，測(cè)量參數(shù)包括|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數(shù))、Q(品質(zhì)因數(shù))、DCR(直流電阻)、C(電容)、ESR(等效串聯(lián)電阻)。

MICROTEST 6630系列提供10Hz-50MHz寬頻率范圍測(cè)量元件/材料阻抗特性，測(cè)量參數(shù)包括|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數(shù))、Q(品質(zhì)因數(shù))、DCR(直流電阻)、C(電容)、ESR(等效串聯(lián)電阻)、ε(相對(duì)介電常數(shù))、μr(相對(duì)導(dǎo)磁系數(shù))，最快3mS的測(cè)量速度是電感自動(dòng)化測(cè)試機(jī)的合適選擇。