益和MICROTEST 7750系列線圈匝間短路測(cè)試儀

描述：MICROTEST 7750提供1200V/5200V/10000V脈沖電壓輸出，200MHz/9bits高速取樣技術(shù)提供多種比對(duì)模式，包含總面積比對(duì)、面積差比對(duì)、電暈數(shù)比對(duì)、顫抖數(shù)比對(duì)、二階微分比對(duì)與波形比對(duì)模式，測(cè)試速度高達(dá)10次/秒，上自動(dòng)線是優(yōu)良的選擇。針對(duì)小感量可選型7750-1層間短路測(cè)試儀搭載FX-IM0001四線式SMD元件測(cè)試治具，支援電壓補(bǔ)償功能，避免配線引起測(cè)試電壓誤差過(guò)大。

更新時(shí)間：2025-07-30

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型號(hào)	7750-1S	7750-1F	7750-5E	7750-5H	7750-5S	7759	7750-10S
通道數(shù)	1					9	1
脈沖電壓	10V-1200V		100V-5200V				200V-10000V
波形采樣率	200MHz/9 bit	200MHz/9 bit	50MHz/9 bit	100MHz/9bit	200MHz/9 bit	200MHz/9 bit	200MHz/9 bit
量測(cè)最小電感量	≥ 0.1μH	≥ 0.1μH	≥ 16μH	≥ 4μH	≥ 1μH	≥ 1μH	≥ 20μH
量測(cè)時(shí)間	10次/秒
崩潰電壓-BDV	●	●	-	-	●	●	●
支持LAN界面	●	●	-	-	●	●	●
波形分析
總面積比對(duì)	●	●	●	●	●	●	●
面積差比對(duì)	●	●	●	●	●	●	●
二階微分比對(duì)	●	●	-	●	●	●	●
電暈數(shù)比對(duì)	●	●	●	●	●	●	●
顫抖數(shù)比對(duì)	●	●	●	●	●	●	●
波形比對(duì)	●	●	●	●	●	●	●

產(chǎn)品特點(diǎn)

最小電感值≥0.1μH
電壓補(bǔ)償功能
高速脈沖取樣率200MHz/9bits
崩潰電壓測(cè)試
穩(wěn)定極速測(cè)試：10次/秒
可程序非破壞性脈沖電壓測(cè)試
儀器內(nèi)建可儲(chǔ)存128組測(cè)試波形
USB Host快速存取測(cè)試畫面
五種波形比對(duì)，檢測(cè)繞線元件層間短路不良

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